问：碳纳米管功能化基团含量是如何换算出来的？ new

    答:目前，世界上还没有统一的测试碳纳米管表面改性后基团的含量。因此文献报道中出现了高达10wt%的基团含量。但是从理论上分析，文献上过高的基团含量报道上不真实的。

       一般地，我们考察改性后表面的基团为——直接与碳纳米管表面层碳原子相连接的基团，如-COOH，-OH等第。

       我们根据XPS法推导出以下公式，是比较合理的测定碳纳米管表面改性后基团的含量的方法。

       理论上，碳纳米管表面改性后基团的摩尔百分含量不能太高（高于40%），如果太高，碳纳米管结构将崩溃。根据该公式举例，一外径40nm，内径8nm的碳纳米管，XPS测试其表面-OH化摩尔含量为20%，管壁厚度为16nm，理论碳原子层数约为47层，则可计算得出-OH质量百分比含量为：17/12*（2/47）*20%*100%=1.206wt%

       从上述例子看出，即使表面功能化接近临界值（假设为摩尔比为50%），计算得出-OH的质量百分比含量也仅为：17/12*（2/47）*50%*100%=3.014wt%；因此文献报道中出现的过高的基团质量百分比含量，从该分析看，是不能达到的。

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